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微電阻計(jì)量測(cè)范圍 20mΩ,200mΩ,2Ω,20Ω,200Ω,2kΩ,20kΩ 共 7 檔 準(zhǔn)確度 量測(cè) 20mW + (0.2% 讀值 + 6 位數(shù)), 200mW ~ 20kW + (0.2% 讀值 + 4 位數(shù)), 設(shè)定 + (0.2% + 6 位數(shù))
指針式接地電阻吊缐式高質(zhì)量防震表頭。 ■可量測(cè)接地電阻(Ω)和接地電壓(ACV)。 ■量測(cè)電流僅有2mA,不會(huì)影響漏電斷路器的跳脫。 ■可作三缐式量測(cè)或兩缐式量測(cè)。
便攜式四探針電阻率測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。
表面電阻測(cè)試儀為一臺(tái)便攜式電阻儀,規(guī)格為103 歐姆/米2 ~1012 歐姆/米2 ,精確度為±101/2。它主要用于測(cè)量表面電阻接地電阻。
四探針電阻測(cè)量?jī)x是二量程的電阻測(cè)量?jī)x器,配以手持式測(cè)試頭或座式測(cè)試架,可用來(lái)測(cè)量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。
四探針測(cè)試儀主機(jī)采用世-界-領(lǐng)-先的*電路設(shè)計(jì),所測(cè)數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn)(一代為傳統(tǒng)式電路,缺點(diǎn):體積大,速度慢,元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命)。