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液晶高阻四探針測試儀四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率,可以測試到10^10Ω方阻值,液晶顯示,芯片控制,恒流輸出,四探針雙位測量、參考美國A.S.T.M標準。中或英文語言版本.
液晶高阻四探針測試儀 四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率,可以測試到10^10Ω方阻值,液晶顯示,芯片控制,恒流輸出,四探針雙位測量、參考美國A.S.T.M標準。中或英文語言版本.
恒流低阻雙電四探針測試儀器四探針法測試低阻材料方阻及電阻率,可以測試到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動數(shù)據(jù)測量,系數(shù)補償,參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量.提供中文或英文語言版本.
恒流低阻雙電四探針測試儀器四探針法測試低阻材料方阻及電阻率,可以測試到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動數(shù)據(jù)測量,系數(shù)補償,參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量.提供中文或英文語言版本.
四探針液晶電阻率測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計參考國標單晶硅物理測試方法及A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.
四探針方阻電阻率測試儀用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產品