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關鍵詞：高精度光譜橢偏儀
橢偏儀儀器 光譜橢偏儀 橢偏儀分析 橢偏儀設備 分光橢偏儀
產品用途：
高精度光譜橢偏儀針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數（如，厚度）和物理參數（如，折射率n、消光系數k，或介電函數ε1和ε2），也可用于測量塊狀材料的光學性質。
儀器特點：
1. *的旋轉補償器測量技術：橢偏角△的測量范圍是0-360o，無測量死角問題，也可消chu粗糙表面引起的消偏振效應對結果的影響
2. 秒級的全光譜測量速度：全光譜測量典型時間5-10秒
3. 原子層量級的檢測靈敏度：可以測量單原子層
4. 視頻式樣品對準：精準完成樣品對準，并方便觀察，減小人為誤差
5. 多入射角度調節(jié)：多入射角度結構設計，增強了儀器測量的靈活性，尤其適合于超薄樣品或復雜的樣品的測量場合
6. 反射率/透射率測量：對樣品進行光譜透射率和反射率測量
7. 一鍵式儀器操作：對于常見操作，只需鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高ji操作需求
技術參數：
當前位置：
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